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半導体検査装置

高速化多ピン化傾向にあるロジックデバイス、集積度の高いメモリデバイス、極小化される電子部品の機能を測定する半導体試験装置をお客様の仕様に基づき専用機として設計及び製造いたします。また、お客様が所有している半導体テスタのBOST( Built-Out Self Test )機能についてのソリューションも提供いたします。

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