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計測用電源

指定された電圧・電流値の印加および計測に加え、DDS技術の採用により、過渡応答パターンとしての電源の立上がり・立下りの波形および印加時間が制御できるとともに、その時流れた電流、発生した電圧の計測が可能です。FPGAとマイコン制御により周辺回路の小型化を実現しています。本電源は主に半導体検査装置と組み合わせて使用されます。本電源は、高電圧、大電流の容量を持ち、パワーMOSFET、IGBT、整流ダイオードなどのパワーデバイスの測定用として、半導体検査装置と組み合わせて使用されます。

計測用電源